Utwórz kartę kontrolną X̄–S

Monitoruj średnią i zmienność procesu za pomocą średnich i odchyleń standardowych podgrup.

Poradniki · Statystyczne sterowanie procesem (SPC) · 4 min czytania

Nazwy poleceń aplikacji, identyfikatory kolumn i wartości danych przykładowych zachowano w oryginale. Zrzuty ekranu, wykresy i pliki do pobrania są w języku angielskim.

Przykład: grubość powłoki

Kontroler mierzy 12 kolejnych metalowych pokryw co dwie godziny. Grubość suchej powłoki mierzy w tym samym miejscu każdej pokrywy.

Pobierz przykład grubości powłoki (CSV w języku angielskim)

Ten przykład Help zawiera 360 pomiarów w 30 grupach po 12 pokryw. subgroup_id identyfikuje grupę, a coating_thickness_um zawiera grubość w µm. Pozostałe kolumny podają kolejność, czas i pozycję w grupie.

1. Utwórz obszar roboczy karty

Na pasku bocznym otwórz Process control, wybierz X̄–S Chart i nazwij analizę. Wybierz New blank worksheet oraz Create analysis.

2. Zaimportuj dane

Na karcie Worksheet wybierz Import. Wskaż pobrany plik lub wklej jego zawartość. Ustaw separator Comma, wybierz Decimal dot i zaznacz First row contains column names. Sprawdź podgląd i wybierz Import into worksheet. Zachowaj kolejność zbierania danych.

3. Przypisz kolumny wejściowe

Na karcie Inputs wybierz By subgroup ID. Przypisz subgroup_id do Subgroup ID, a coating_thickness_um do Measurements z selektora kolumn. Każdy identyfikator zawiera 12 pokryw, więc liczebności wynikają z danych.

Otwórz Western Electric / AIAG rules. Pozostaw wszystkie pięć opcjonalnych reguł w stanie On: 7-point trend, 6 on one side, 14 alternating, 2 of 3 beyond 2σ i 4 of 5 beyond 1σ.

X̄–S Chart: Karta Inputs z przypisaniami i ustawieniami przykładu
Angielski zrzut ekranu Inputs: kolumny grubości powłoki i wszystkie pięć opcjonalnych reguł sygnałów. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

4. Uruchom analizę

Wybierz Run analysis, a następnie otwórz Results.

5. Zinterpretuj wyniki

  1. Zrozum znaczenie punktów

    Dwanaście pokryw mierzono co dwie godziny. Każdy punkt średniej oznacza ich średnią grubość. Karta S pokazuje zmienność w tej samej grupie jako odchylenie standardowe w µm.

  2. Najpierw sprawdź kartę S

    Grupy CS25 i CS30 (na karcie 25 i 30; indeksy wyniku 24 i 29) przekraczają górną granicę S wynoszącą 4.358 µm. Grubość w tych grupach różni się bardziej, niż przewiduje karta. Zbadaj pomiary przed uznaniem granic średniej za stabilne odniesienie.

    Karta odchyleń standardowych (S)
    Odchylenie standardowe wewnątrz grup w µm dla 30 grup po 12 pokryw. Otwórz wykres w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)
  3. Sprawdź średnie

    Żadna średnia nie przekracza granic 77.617–82.308 µm. Grupy 8–13 wyróżniono, bo sześć kolejnych średnich leży po tej samej stronie linii centralnej. Układ może dać sygnał mimo wszystkich punktów wewnątrz granic.

    Karta średnich (X̄)
    Średnia grubość powłoki w µm dla tych samych 30 grup. Otwórz wykres w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)
  4. Wybierz, co zbadać

    Sprawdź wszystkie 12 odczytów w grupach 25 i 30 oraz warunki pomiaru. Następnie zapisy produkcji dotyczące układu średnich grup 8–13. Karty nie wskazują przyczyny. Zachowaj ustalenia przed ponowną oceną granic.

Więcej szczegółów: omówienie poszczególnych wyników

Pełne tabele wyników zachowują sześć cyfr znaczących, tak jak w sekcji Help.

Podsumowanie X̄–S

Jest 30 grup po 12 pomiarów. Osiem wpisów reguł obejmuje dwa przekroczenia S i sześć sygnałów układu X̄. Oszacowanie sigmy wewnątrz podgrup zależy od zmienności w tych danych.

Podsumowanie X̄–S · Liczba wierszy: 11
Statystyka / ustawienieWartość
Podgrupy (k)30
Średnia ogólna (X̄̄)79.9628
Średni S2.6474
σ wewnątrz podgrup2.70818
Sygnały8
Tworzenie podgrupWedług etykiety podgrupy
7-point trendOn
6 on one sideOn
14 alternatingOn
2 of 3 beyond 2σOn
4 of 5 beyond 1σOn

Granice kontrolne i strefy

Granice oszacowano z całego badania. Opisują zachowanie procesu, nie dopuszczalną grubość powłoki.

Granice kontrolne i strefy · Liczba wierszy: 10
Statystyka / ustawienieWartość
X̄ CL79.9628
X̄ LCL77.6172
X̄ UCL82.3084
S CL2.6474
S LCL0.93718
S UCL4.35762
X̄ −1σ79.181
X̄ +1σ80.7446
X̄ −2σ78.3992
X̄ +2σ81.5263

Średnie i rozproszenie w podgrupach

Każdy wiersz podaje średnią podgrupy, S i reguły obu kart. Indeks 0 oznacza CS01, indeks 24 to CS25, a 29 to CS30. Identyfikator podgrupy pozwala znaleźć dwanaście odczytów źródłowych. None oznacza brak wskazanej reguły, nie dowód stabilności.

Średnie i rozproszenie w podgrupach · Liczba wierszy: 30
Indeks podgrupy (z wyniku)X̄SSygnały X̄Sygnały S
079.6752.29193BrakBrak
180.26672.11288BrakBrak
279.10832.59386BrakBrak
380.28332.73391BrakBrak
480.1751.98179BrakBrak
581.3752.12523BrakBrak
680.01671.52961BrakBrak
779.60832.039816 on one sideBrak
879.95832.273756 on one sideBrak
979.82.976886 on one sideBrak
1079.89171.817826 on one sideBrak
1179.6252.551346 on one sideBrak
1279.58332.626046 on one sideBrak
1381.80831.9247BrakBrak
1481.14171.82331BrakBrak
1578.952.09827BrakBrak
1678.92.9542BrakBrak
1779.79171.95376BrakBrak
1880.46672.65889BrakBrak
1980.06671.70791BrakBrak
2079.853.10117BrakBrak
2178.39172.33762BrakBrak
2279.8751.94708BrakBrak
2380.34172.33217BrakBrak
2479.03335.71097BrakBeyond 3σ
2580.653.90629BrakBrak
2679.01673.39434BrakBrak
2780.48333.99746BrakBrak
2880.56672.1931BrakBrak
2980.18335.72599BrakBeyond 3σ

Szczegóły sygnałów karty kontrolnej

Wiersze podają indeks podgrupy, kartę i regułę. Indeksy zaczynają się od 0: 7–12 oznaczają CS08–CS13, a 24/29 oznaczają CS25/CS30. Kilka reguł może dotyczyć jednego punktu. Osiem wpisów reguł to sygnały do zbadania, nie liczby wadliwych pokryw.

Szczegóły sygnałów karty kontrolnej · Liczba wierszy: 8
Indeks (z wyniku)KartaReguła
24SBeyond 3σ
29SBeyond 3σ
10X̄6 on one side
11X̄6 on one side
12X̄6 on one side
7X̄6 on one side
8X̄6 on one side
9X̄6 on one side
  • Indeksy podgrup zaczynają się od 0: indeksy 24 i 29 oznaczają CS25 i CS30.

6. Utwórz raport

Zachowaj Mean chart (X̄) i Standard deviation chart (S) wraz z podsumowaniem, granicami, wartościami podgrup i szczegółami sygnałów. Zapisz ustalenia dotyczące grup 25 i 30 oraz układu średnich grup 8–13. Natywny raport jest po angielsku.

Wybierz Add to report z zakończonego przebiegu. Otwórz Choose individual items and advanced options aby wybrać tabele i wykresy, a następnie wybierz Add to draft. Ukryte elementy pozostają w zapisanej analizie.

Nadaj raportowi nazwę, dodaj cel badania i swoją interpretację. Wybierz Save, sprawdź Preview, a następnie użyj Export → Download HTML. Poniższy przykład zawiera całą wybraną treść, w tym wyniki wykraczające poza jeden ekran.

Raport w języku angielskim. Pełny oryginalny wynik tego przykładu z Help, obejmujący odpowiednie tabele, wykresy i uwagi do obliczeń. Liczby w raporcie zachowują precyzję wyświetlaną przez aplikację. Wyeksportowane wykresy są statyczne. Na wąskich ekranach przewijaj szerokie wykresy i tabele w poziomie.
Zobacz przykładowy raport: Monitoruj grubość powłoki metalowych pokryw

Używamy Microsoft Clarity, w tym nagrań sesji i map cieplnych, aby zrozumieć sposób korzystania z witryny. Możesz korzystać z witryny bez wyrażania zgody na analitykę.

Twój wybór jest zapisywany w tej przeglądarce na sześć miesięcy. Informacja o prywatności

Obecny wybór: Nie wybrano.