Co możesz zrobić w StatSwift

Statystyka, wykresy, narzędzia do danych i planowanie doświadczeń w jednym obszarze roboczym w przeglądarce.

Poznaj sześć grup narzędzi opisanych poniżej. Każdy plan obejmuje te same funkcje. Otwórz przykład, aby zobaczyć aplikację i dostępne metody.

Statystyka podstawowa

Podsumowuj dane, porównuj grupy, wyznaczaj przedziały ufności i badaj zależności za pomocą testów statystycznych oraz regresji.

Zobacz przykład i metody

Statystyki opisowe 125 syntetycznych pomiarów średnicy wałka: liczebność, średnia, mediana i zmienność (zrzut ekranu po angielsku). — Statystyki opisowe 125 pomiarów średnicy wałka w milimetrach. Syntetyczne dane przykładowe; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Dostępne metody i narzędzia

Statystyki opisowe; testy t dla jednej próby, dwóch prób i prób sparowanych; ANOVA; proporcje; testy chi-kwadrat i wariancji; przedziały ufności; normalność; obserwacje odstające; dopasowanie rozkładów; autokorelacja; regresja liniowa; moc testu i liczebność próby; obliczenia rozkładów i wykresy rozkładu normalnego.

Przeczytaj poradnik statystyk opisowych

Wykresy

Badaj rozkłady, różnice i zależności za pomocą histogramów, wykresów pudełkowych, wykresów rozrzutu i innych wizualizacji.

Zobacz przykład i metody

Histogram rozkładu częstości syntetycznych pomiarów średnicy wałka w milimetrach (zrzut ekranu po angielsku). — Histogram tych samych 125 pomiarów średnicy wałka, których użyto w przykładzie statystyk. Syntetyczne dane przykładowe; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Dostępne metody i narzędzia

Histogramy; wykresy pudełkowe, wartości indywidualnych, kropkowe i rozrzutu; macierze wykresów rozrzutu; macierze i mapy cieplne korelacji; wykresy słupkowe, przedziałowe i liniowe; wykresy efektów głównych i interakcji; szeregi czasowe; wykresy Pareto.

Przeczytaj poradnik histogramu

Arkusze i narzędzia do danych

Importuj lub wklejaj dane, edytuj arkusze, standaryzuj i skaluj wartości oraz generuj dane przykładowe.

Zobacz przykład i metody

Arkusz z oryginalnymi pomiarami Diameter_mm obok wygenerowanej kolumny Diameter_z zawierającej wyniki z (zrzut ekranu po angielsku). — Oryginalne pomiary średnicy obok wyznaczonych wyników z, w niezależnej kopii arkusza. Syntetyczne dane przykładowe; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Dostępne metody i narzędzia

Import CSV i TSV; wklejanie z arkusza kalkulacyjnego; typy kolumn, filtry i sortowanie; standaryzacja do wyników z; centrowanie; skalowanie do [0,1] lub [−1,1]; generowanie danych losowych; diagramy Ishikawy.

Przeczytaj poradnik standaryzacji do wyników z

Planowanie doświadczeń (DOE)

Twórz plany czynnikowe i plany powierzchni odpowiedzi, a następnie analizuj pomiary z doświadczeń.

Zobacz przykład i metody

Arkusz pełnego planu czynnikowego: osiem przebiegów w losowej kolejności, dwa czynniki na dwóch poziomach, dwie replikacje i pusta kolumna odpowiedzi (zrzut ekranu po angielsku). — Pełny plan czynnikowy: dwa czynniki na dwóch poziomach, dwie pełne replikacje i osiem przebiegów w losowej kolejności z ziarnem 42. Kolumna odpowiedzi jest pusta, gotowa na pomiary. Syntetyczne ustawienia przykładu; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Dostępne metody i narzędzia

Pełne i regularne ułamkowe plany czynnikowe; centralne plany kompozycyjne i plany Boxa–Behnkena; replikacja, randomizacja i bloki; analiza wyników doświadczeń z oszacowaniami efektów i diagnostyką reszt.

Przeczytaj poradnik pełnego planu czynnikowego

Statystyczne sterowanie procesem (SPC)

Analizuj zmienność procesu za pomocą kart kontrolnych i oceniaj jego zdolność względem granic specyfikacji.

Zobacz przykład i metody

Wynik X̄–R w StatSwift dla pomiarów średnicy wałka, z przesunięciem w ostatnich czterech podgrupach (zrzut ekranu po angielsku). — Przykład: karta kontrolna X̄–R dla 25 podgrup po pięć pomiarów. Średnie ostatnich czterech podgrup przekraczają górną granicę kontrolną. Syntetyczne dane przykładowe; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Dostępne metody i narzędzia

Karty kontrolne X̄–R, X̄–S, I-MR, Z–MR, EWMA, CUSUM, p, np, c i u; analiza zdolności i wskaźników wykonania procesu, w tym Cp/Cpk i Pp/Ppk. Granice kontrolne opisują zachowanie procesu; nie są granicami specyfikacji.

Przeczytaj poradnik karty X̄–R

Analiza systemów pomiarowych (MSA)

Badaj powtarzalność, odtwarzalność, obciążenie, liniowość, stabilność i zgodność ocen.

Zobacz przykład i metody

Wykres analizy R&R przedstawiający zmienność badania pochodzącą od przyrządu, operatora, systemu pomiarowego i różnic między częściami (zrzut ekranu po angielsku). — Badanie R&R z 10 częściami, trzema operatorami i trzema powtórzonymi pomiarami każdej kombinacji. Syntetyczne dane przykładowe; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Dostępne metody i narzędzia

Analiza R&R metodami ANOVA, średniej i rozstępu oraz rozstępu; Cg/Cgk (typ 1); stabilność; obciążenie; liniowość; współczynnik Kappa dla danych atrybutowych.

Przeczytaj poradnik analizy R&R

Zachowuj analizy i twórz raporty

Wracaj do analiz zapisanych w sesji i sprawdzaj dane wejściowe zakończonych obliczeń. Wybierz tabele i wykresy, dodaj kontekst oraz wnioski i zapisz raport. Otwórz podgląd, pobierz HTML albo skorzystaj z drukowania lub zapisu do PDF.

Zobacz przykładowy raport

Podgląd zapisanego raportu z wykresem średnicy wałka z zakończonej analizy (zrzut ekranu po angielsku). — Wykres z zakończonej analizy, dodany do raportu i otwarty w Preview. Syntetyczne dane przykładowe; zrzut ekranu po angielsku. Otwórz obraz w pełnym rozmiarze (otwiera się w nowej karcie)

Przeczytaj poradnik na początek Przeglądaj poradniki i przykładowe dane